由种种原因引起的干扰将严重地影响局部放电试验。假使这些干扰是连续的而且其幅值是基本相同的（背景噪声），它们将会降低局部放电测试仪的有效灵敏度，即Zui小可见放电量比所用试验线路的理论Zui小值要大。这种形式的干扰会随电压而增大，因而灵敏度是按比例下降的。
GDPD-414便携式局部放电带电巡检仪
在其他的一些情况中，随电压的升高而在试验线路中出现的放电，可以认为是发生在试验样品的内部。因此，重要的是将干扰降低到Zui小值，以及使用带有放电实际波形显示的局放仪，以Zui大的可能从试样的干扰放电中鉴别出假的干扰放电响应。
干扰的主要形式如下：
(1)来自电源的干扰；
(2)来自接地系统的干扰；
(3)从别的高压试验或者电磁辐射检测到的干扰；
(4)试验线路的放电；
(5)由于试验线路或样品内的接触不良引起的接触噪声。
©2024 武汉国电西高电气有限公司 版权所有鄂ICP备07003820号-21 鄂公网安备 42011202001536号
